Essais de couches minces

Platypus Technologies propose des services de test et de caractérisation des couches minces. Nos capacités comprennent :

• Ellipsométrie
• Mesures de l'angle de contact avec l'eau
• Microscopie optique et analyse d'images
• Spectroscopie UV/Vis/NIR/IR
• Spectroscopie d'impédance électrochimique
• Voltampérométrie cyclique, ampérométrie, potentiométrie
• Essais électriques (inductance, capacité, résistance, résistance de la feuille)

L'ellipsométrie est une technique optique qui utilise la lumière polarisée pour mesurer de manière non destructive l'épaisseur et les constantes optiques de films minces sur du verre ou du silicium. Cette méthode est idéale pour les couches minces semi-transparentes et transparentes.

Nous proposons également une gamme de services de spectroscopie permettant d'analyser la structure et la composition de différentes structures. La spectroscopie ultraviolette-visible et la spectroscopie infrarouge sont utilisées pour déterminer la transmission et la réflexion de films minces à différentes énergies photoniques (c.-à-d. longueurs d'onde).

La spectroscopie d'impédance électrochimique (EIS) peut être utilisée pour étudier les propriétés électriques interfaciales des matériaux et des films minces.

Notre équipe dévouée de scientifiques et d'ingénieurs possède des années d'expérience dans le domaine des couches minces, des métaux, des oxydes métalliques, des polymères, des biomolécules et des surfaces nanostructurées. Contactez-nous dès aujourd'hui pour intégrer l'expertise de nos ingénieurs dans votre prochain projet de R&D !