Dünnschicht-Tests

Platypus Technologies bietet Dienstleistungen zur Prüfung und Charakterisierung dünner Schichten an. Unsere Fähigkeiten umfassen:

• Ellipsometrie
• Messungen des Wasserkontaktwinkels
• Optische Mikroskopie und Bildanalyse
• UV/Vis/NIR/IR-Spektroskopie
• Elektrochemische Impedanzspektroskopie
• Zyklische Voltammetrie, Ampermetrie, Potentiometrie
• Elektrische Prüfungen (Induktivität, Kapazität, Widerstand, Schichtwiderstand)

Die Ellipsometrie ist ein optisches Verfahren, bei dem polarisiertes Licht zur zerstörungsfreien Messung der Dicke und der optischen Konstanten von dünnen Schichten auf Glas oder Silizium verwendet wird. Diese Methode ist ideal für halbtransparente und transparente dünne Schichten.

Wir bieten auch eine Reihe von Spektroskopiedienstleistungen an, mit denen die Struktur und Zusammensetzung verschiedener Strukturen analysiert werden. Die Ultraviolett- und Infrarotspektroskopie wird eingesetzt, um die Transmission und Reflexion dünner Schichten bei verschiedenen Photonenenergien (d. h. Wellenlängen) zu bestimmen.

Die elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) kann zur Untersuchung der elektrischen Grenzflächeneigenschaften von Materialien und dünnen Schichten eingesetzt werden.

Unser engagiertes Team von Wissenschaftlern und Ingenieuren verfügt über jahrelange Erfahrung in der Arbeit mit dünnen Schichten, Metallen, Metalloxiden, Polymeren, Biomolekülen und nanostrukturierten Oberflächen. Kontaktieren Sie uns noch heute, um das Fachwissen unserer Ingenieure in Ihr nächstes F&E-Projekt zu integrieren!