薄膜测试

Platypus Technologies 提供薄膜测试和表征服务。我们的能力包括

椭偏仪是一种利用偏振光对玻璃或硅薄膜的厚度和光学常数进行非破坏性测量的光学技术。这种方法非常适合半透明和透明薄膜。

我们还提供一系列光谱学服务，用于分析不同结构的结构和组成。紫外-可见光谱和红外光谱用于确定薄膜在不同光子能量（即波长）下的透射和反射。

电化学阻抗光谱（EIS）可用于研究材料和薄膜的电界面特性。

我们专业的科学家和工程师团队在薄膜、金属、金属氧化物、聚合物、生物分子和纳米结构表面方面拥有多年的工作经验。现在就联系我们，将我们工程师的专业知识融入您的下一个研发项目！