Pruebas de películas finas

Platypus Technologies ofrece servicios de ensayo y caracterización de películas finas. Nuestras capacidades incluyen:

• Elipsometría
• Mediciones del ángulo de contacto con el agua
• Microscopía óptica y análisis de imágenes
• Espectroscopia UV/Vis/NIR/IR
• Espectroscopia de impedancia electroquímica
• Voltamperometría cíclica, amperometría, potenciometría
• Pruebas eléctricas (inductancia, capacitancia, resistencia, resistencia de chapa)

La elipsometría es una técnica óptica que utiliza luz polarizada para medir de forma no destructiva el espesor y las constantes ópticas de películas finas sobre vidrio o silicio. Este método es ideal para películas finas semitransparentes y transparentes.

También ofrecemos una gama de servicios de espectroscopia que analizan la estructura y composición de distintas estructuras. La espectroscopia ultravioleta-visible e infrarroja se utiliza para determinar la transmisión y reflexión de películas finas a distintas energías de fotones (es decir, longitudes de onda).

La espectroscopia de impedancia electroquímica (EIS) puede utilizarse para estudiar las propiedades eléctricas interfaciales de materiales y películas finas.

Nuestro equipo de científicos e ingenieros tiene años de experiencia trabajando con películas finas, metales, óxidos metálicos, polímeros, biomoléculas y superficies nanoestructuradas. Póngase en contacto con nosotros hoy mismo para integrar los conocimientos de nuestros ingenieros en su próximo proyecto de I+D.